『ノイズ耐性試験・設計ハンドブック』　澁谷昇（工学部教授）、高橋丈博（工学部教授）、谷由紀夫（工学部助手）他30名共著

市販の電気電子機器は、外部から電磁ノイズを受けても誤動作しないよう、電磁ノイズに対して耐性を持つように求められたり義務づけられたりしています。本書は、ノイズ耐性についての国内におけるJIS規格や国際規格であるIEC規格の幅広い内容をコンパクトにまとめ、容易に参照できるようにしたハンドブックです。規格は年々見直されていますが、最近の審議動向なども記述してあり、内容が濃いものとなっています。

さらに、耐性を高めるための設計方法などを含めており、電気電子機器の設計者にとっては非常に役に立つ本です。

出版社 / 発行

科学技術出版 ／ 201３年　４月

著者

澁谷昇（しぶや　のぼる）

1978年大阪大学大学院理学研究科博士課程修了。理博。東京農工大学工学部助手、同助教授、拓殖大学助教授を経て、1993年より拓殖大学工学部教授。1972年独チュービンゲン大学留学。超音波画像解析や環境電磁工学分野の研究に従事。エレクトロニクス機器の国際規格を審議するIECのACEC国際委員、TC77国内委員長を務めている。

高橋丈博（たかはし　たけひろ）

1987年東京農工大学大学院工学研究科修士課程修了。キヤノン、拓殖大学工学部助手、同助教授を経て、2006年より拓殖大学工学部教授。博士（工学）。2011年米クレムソン大学客員研究員。主に、電子機器の電磁ノイズのメカニズムの解析やノイズ低減設計法の研究に従事。

谷由紀夫（たに　ゆきお）

１971年大分工業高等専門学校卒。山武ハネウェル（現，アズビル）株式会社にて制御用コンピュータシステムの評価試験等担当を経て、2011年拓殖大学工学部助手。エレクトロニクス機器の国際規格を審議するIECのSC77B国内委員会幹事。

掲載日：2013年07月12日